《表1 脉冲激光沉积参数设置》

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《衬底温度对脉冲激光沉积法制备的CuO薄膜性能的影响》

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使用台阶仪测量Cu O薄膜的厚度，所有样品的薄膜厚度约为200nm。薄膜的结构使用X射线衍射仪分析。薄膜的透过率光谱用紫外可见近红外分光光度计来检测。薄膜的物相结构使用X射线光电子能谱仪。使用范德堡方法测试霍尔效应获得薄膜的电学性能。