《表2 Rsk<0时各组参数的计算值》

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《基于高精度测量的缸体顶端结合面密封路径密封性研究》

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由图5可以看到第1，2，11，12，13组计算出的泄漏量较为接近，对比图4知其对应的偏斜度Rsk均大于0。由ISO4287-1997知，Rsk>0时，粗糙表面的粗糙谷深度较为均匀，对泄露量的影响较小；当Rsk<0时，则有部分的粗糙谷较深，对泄露量有较大影响。故需要对式（4）进行调整。现同时考虑表面形貌参数Rvm和Rsk对泄露量的影响。因为Rsk≥0时QSvm与QRvm较为一致，故只需考虑Rsk<0的情况，所以选择|Rsk×Rvm|来综合研究表面形貌参数Rvm和Rsk对泄漏量的影响。Rsk<0时，|Rsk×Rvm|的值如表2所示。