《表1 片式电阻结构要素组成及试验方法》

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《片式电阻结构分析技术研究》

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片式电阻失效一般都会在物理结构上有所体现，根据片式电阻常见的失效模式和失效机理，判断其相对应的结构单元可能出现的缺陷和失效，如基体开裂、端电极腐蚀、电阻膜缺损等[9～13]，再进行结构要素识别，制定相应的试验方法，逐一验证电阻结构的合理性和可靠性。针对军用片式电阻进行结构要素识别结果和对应的分析试验如表1所示。