《表2 不同振幅下的平均KAM值》
为了研究内弯面处的位错密度,对不同振幅下的内弯面区域进行了EBSD观测,并利用OIM软件对EBSD结果进行了处理,得到了该区域的KAM图和平均KAM值,结果如图8和表2所示。可以发现,内弯面区域的平均KAM值与残余应力随振幅的变化趋势一致,均为先下降、后上升。而平均KAM值和位错密度呈现正相关关系[21],所以,内弯面区域的残余应力和位错密度也呈现了正相关关系。
图表编号 | XD00220238700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.10.25 |
作者 | 王宇飞、周芃、邓磊、王新云 |
绘制单位 | 华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室、华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室、华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室、华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室 |
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