《表1 300 mm料盘重复性测试结果》

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《基于矩形拟合的IC芯片块定位算法》

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利用改进的矩形拟合算法对不同类型的芯片块分别进行实物测试，芯片块类型较多，选择常见的300 mm料盘和230 mm寸料盘各1种型号分别进行100次测试，所得到的芯片块拟合效果如图4所示，重复性测试结果如表1和表2所示。