《表2 端子在不同电流下的耐热冲击实验》
本文利用高频测试仪研究了端子单品在不同电流下抗热冲击性能,实验参数如表2所示。实验前每组实验随机选取36台,三组累计108台端子单品进行荧光液检测实验,发现以上三厂家泄漏率为C/N=0/180。随后进行136 A高频加热实验,加热时间为8 s,并利用测温仪测此过程中端子玻璃体的最高温度。待其自然冷却15 min后,利用气密检测仪在酒精中检测(p=0.42 MPa),并未发现端子泄漏问题。
图表编号 | XD00217465700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 吴义灿、邢剑锋 |
绘制单位 | 广东美芝制冷设备有限公司、广东美芝制冷设备有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |