《表1 XRF在地质标准物质均匀性检验和定值中的应用概况》

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《X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介》

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注：表中NAA为中子活化分析，AAS为原子吸收光谱，EMPA为电子显微探针，LA-ICP-MS为激光剥蚀电感耦合等离子体质谱，ID-ICP-MS为同位素稀释电感耦合等离子体质谱，WDXRF为波长色散X射线荧光光谱，P-EDXRF为偏振能量色散X射线荧光光谱，*地矿部西安地质矿产研究所等，超基性岩标

20世纪70年代中期李国会、王毅民等采用XRF方法对磷矿石标准物质系列中的Fe和P进行了均匀性检验，之后在地质标准物质研制（铬铁矿和超基性岩）中对Fe和Ni进行了均匀性检验。20世纪80年代中期颜茂弘等对XRF检验地质标准物质均匀性的一系列问题进行了深入研究，在国内首次使用了“不均匀度”的概念并给出快速简便的计算方法，推导了XRF分析实测取样量的计算公式，证实了XRF的实测取样量符合均匀性检查取样的技术要求，使XRF分析方法成为快速、简便和可靠的岩石标准物质均匀性检查方法[23]。该文对后来的相关研究[24-29]产生的重要影响涉及分析元素的选取、实际取样量的计算、数据处理与判断、X射线荧光计数统计与浓度统计的一致性及样品不确定度的统计等。XRF用于地质标准物质均匀性和稳定性检验的文献大多都包含在标准物质研制的文献中，表1给出了XRF在地质标准物质均匀性检验和定值中的应用概况。