《表1 样品方差分析表:方差分析两两比较法在光谱分析用块状标准样品单元内均匀性检验中的应用》
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《方差分析两两比较法在光谱分析用块状标准样品单元内均匀性检验中的应用》
块内检验中有两个可控因素,分别为轴向偏析因素和周向偏析因素。轴向偏析因素的影响,在深度方向有t个水平;周向偏析因素的影响,在每个深度水平上选择b个激发点位置,共有tb个数据xij(i=1,2,…,b;j=1,2,…,t)。数据处理见表1。
图表编号 | XD00108706100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.18 |
作者 | 张增坤、刘鹏、梁红艳 |
绘制单位 | 石家庄创谱科技有限公司、石家庄创谱科技有限公司、石家庄创谱科技有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |