《表6 XRF测定地质材料中N和C的文献方法要点》

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《X射线荧光光谱在痕量和超轻元素分析中的应用评介》

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注：*括号外数值为质量分数（单位为%）；括号内数值为相对标准偏差（RSD，单位为%）。

用XRF测定地质材料中N的文献出现较晚[256]，N的分析是伴随着地球化学，特别是生态地球化学调查而开展的。本文收集XRF测定土壤、水系沉积物和生物样品中N的文献8篇，方法要点列于表6。至今虽还没有测定氮矿石中高含量N的文献，但从技术上已不难解决。采用XRF测定地质材料中的N是地质分析技术的一大进步，对于XRF技术来说也是超轻元素分析的一项技术突破，而且检出限也已低至20μg/g水平[107，260]。