《表5 (1 0 0) RDX的完美和缺陷晶体的N-NO2引发键的Lmax和Lave》

《表5 (1 0 0) RDX的完美和缺陷晶体的N-NO2引发键的Lmax和Lave》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《分子动力学模拟在推进剂组分物理化学性能研究中的应用进展》


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对RDX力学性能的模拟表明[24],在195~345 K下,RDX延展性和韧性随温度升高而增大;在345~445 K下,RDX延展性和韧性随温度升高而减小,呈抛物线规律。对RDX晶体的晶胞参数、质量分数中心、欧拉角度和晶格尺寸等晶体基本参数的模拟[25],有助于对RDX进行深入研究。模拟RDX晶体缺陷对其最大引发键键长的影响的结果如表5所示[26],有一个空位缺陷的RDX晶体的最大引发键键长最大,即感度最高。因此,晶体缺陷会对推进剂的稳定性产生一定的影响。