《表6 试验结果重复性精度》
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试验结果的重复性精度如表6所示。从表中可见，半导体应变天平试验结果的重复性精度优于压电天平，采用半导体应变天平有助于提升试验结果精度。
| 图表编号 | XD00202325300 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.12.01 |
| 作者 | 黄军、邱华诚、刘施然、赵荣娟、吕治国、杨彦广 |
| 绘制单位 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所、中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所、中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所、中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所、中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所、中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 |
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