《表2 基材能谱点扫分析结果》

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《5052合金阳极氧化材料线分析与控制》

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从上述缺陷分析可知，材料线缺陷主要是由于基材损伤和氧化膜引起的。因此，对这两个批次的基材进行取样分析和扫描电镜能谱分析，结果如图4所示。从图4 (a）、（b）可知，M067批次基材表面有凹凸不平、呈连续聚集分布的损伤性缺陷。从对该位置进行的能谱点扫描和定量分析（见表2）结果可知，A、B点含有Al基体元素，并伴随有O、Mg元素。由此可推断A、B点是由基材本身元素组成。