《表7 不同再生温度下再生能耗模拟与试验误差》

《表7 不同再生温度下再生能耗模拟与试验误差》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《Aspen HYSYS对胺法脱碳再生工艺模拟的适用性》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

在模拟过程中发现,使用HYSYS软件模拟再生能耗时,再生温度对再生能耗影响很大,因此,单独分析再生温度对模拟与试验再生能耗模拟误差的影响。由于MDEA+MEA能耗数据较少,选用TEA+MEA胺液配方进行再生能耗模拟适用性研究。对TEA+MEA混合胺液,在再生压力为45k Pa、50k Pa、55k Pa、60k Pa、65k Pa条件下,再生温度分别为110℃、115℃、120℃时进行试验和模拟研究,共计15组工况。对不同再生温度下再生能耗的试验值和HYSYS模拟值求取平均值,并进行误差计算,如图9、表7所示。