《表7 不同再生温度下再生能耗模拟与试验误差》
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《Aspen HYSYS对胺法脱碳再生工艺模拟的适用性》
在模拟过程中发现,使用HYSYS软件模拟再生能耗时,再生温度对再生能耗影响很大,因此,单独分析再生温度对模拟与试验再生能耗模拟误差的影响。由于MDEA+MEA能耗数据较少,选用TEA+MEA胺液配方进行再生能耗模拟适用性研究。对TEA+MEA混合胺液,在再生压力为45k Pa、50k Pa、55k Pa、60k Pa、65k Pa条件下,再生温度分别为110℃、115℃、120℃时进行试验和模拟研究,共计15组工况。对不同再生温度下再生能耗的试验值和HYSYS模拟值求取平均值,并进行误差计算,如图9、表7所示。
图表编号 | XD00197896500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.05 |
作者 | 唐建峰、王玉娟、王曰、花亦怀、褚洁、桑伟、陈静 |
绘制单位 | 中国石油大学(华东)储运与建筑工程学院、中国石油大学(华东)储运与建筑工程学院、中国石油大学(华东)储运与建筑工程学院、中交煤气热力研究设计院有限公司、中海石油气电集团有限责任公司技术研发中心、中海石油气电集团有限责任公司技术研发中心、中国石油大学(华东)储运与建筑工程学院、中国石油大学(华东)储运与建筑工程学院 |
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