《表1 CR系统设备信息：中国金融发展与文化产业内在联系实证分析》

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《中国金融发展与文化产业内在联系实证分析》

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注：（1）“检验形式”一栏中的（C，T，K）分别表示截距项、趋势项和滞后阶数，存在截距项记为C，存在趋势项记为T，不存在记为N；(2）符号“△”表示一阶差分；（3）“t统计量”一栏中括号中的数字为ADF的伴随概率。

ADF检验过程如表1表示。（表1)