《表2 不同活度的152Eu(778.9 keV、1 408 keV）与226Ra(609 keV、1 760 keV）铅屏蔽下的便携式高纯锗谱仪的最大可测量厚度分析》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《多能量γ射线源屏蔽下活度估算方法研究》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

根据式（9），分析在铅屏蔽下不同活度的226Ra、152Eu放射源在不同测量时间下的高纯锗探测器的最大可测量厚度。分别选取226Ra放射源的1 760 keV、609 keV和152Eu放射源的778.9 keV、1 408 keV作为特征能量，如表1所示。测量时间t分别取300 s、600 s与1 200 s，活度采用《放射源分类办法》[12]中226Ra、152Eu放射源Ⅱ-Ⅴ类限值标准。相对标准偏差?取3%。不同活度的152Eu、226Ra放射源在铅屏蔽下的最大可测量厚度计算结果如表2所示。