《表1 形态指标调查：超高清显示系统设计》
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（℃）
系统运行过程中，为了测量系统核心的功耗。在室温条件下，通过芯片内部集成的温度传感器，对芯片内部的温度进行采集。对采样后的结果进行平均，得到的温度数据如表1所示。
| 图表编号 | XD00191285100 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.11.01 |
| 作者 | 杨嘉棋、任立成、欧阳益民、刘学智、张建林 |
| 绘制单位 | 中国科学院光电技术研究所、中国科学院大学、中国科学院光电技术研究所、中国科学院大学、中国科学院光电技术研究所、中国科学院大学、中国科学院光电技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国科学院大学 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
