《表4 上行干扰余量取值：特高压GIL用绝缘子材料寿命试验及预测》

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《特高压GIL用绝缘子材料寿命试验及预测》

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将试样分为6组，每组5个试样，分别在30、31、32、33、34、35 MPa下，进行蠕变持久试验。加载温度为90℃，蠕变加载方式为拉伸蠕变，参考GB/T 11546.1—2008的试验方法进行，记录5个试样蠕变断裂时间的平均值。试验结果见表4。