《表1 辐照前后具有RTS行为的像素统计 (100个像素)》

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《基于实时阈值的CMOS有源像素传感器辐射致随机电报噪声自动检测》

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辐照实验前，本文从像素阵列中按照不同空间位置随机选择100个像素作为测试对象，测试5 h后，发现其中3个像素产生了2级RTS波形，没有观测到大于2级的RTS波形。接下来，CMOS APS被置于钴源60Co（2 000 Gy/h）下，辐照1 h后，对先前的100个像素又观测5 h，发现43个像素表现出了RTS行为，其中8个像素的暗信号具有超过3级的RTS转换发生。更多的细节可参考表1和图8。这些信号的RTS行为全部通过本文提出的检测方法检测得到，除此之外，超过3级的RTS像素还进行了人工确认。