《表2 常用X射线聚焦元件分类与重要参数汇总》

《表2 常用X射线聚焦元件分类与重要参数汇总》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《纳米计算机断层扫描成像技术进展综述》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

图5(a)~(c)分别为可见光显微镜成像原理图、软X射线显微镜成像原理图以及硬X射线显微镜成像原理图。基于X射线放大技术实现的纳米CT成像是指利用X射线元件搭建X射线显微镜,实现X射线的显微放大,从而得到纳米级分辨率的图像,如图5 (b)和图5(c)所示。X射线是光的一种,其波段范围是0.001~10nm,按照光学的衍射极限公式,X射线光学显微镜理论上的极限分辨率至少应在0.001nm量级,而目前纳米CT成像的分辨率仅能突破10nm,X射线在纳米成像检测领域仍有巨大的发展潜力。实现X射线显微镜系统的关键在于X射线调制元件的研制,表2汇总了当前大多数X射线元件及其重要参数。