《表4 多元回归结果：一种屏蔽对接固定接头的改进工艺》

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《一种屏蔽对接固定接头的改进工艺》

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对于电气性能，按照HB7263.3[7]及IPC-WHMA-A-620C[8]的要求，对工艺改进后的样品进行导通性能和绝缘性能测试。在导通性能测试方面，使用万用表测试电缆W1的线芯与另一端的两根电缆W2和W3线芯间以及屏蔽间的导通电阻，一般要求电阻值在4Ω以下为合格。在绝缘性能性能测试方面，使用500V兆欧表检查屏蔽层与线芯间的绝缘电阻，一般要求电阻值大于20MΩ。结果如表4。