《表3 Sn-X(X=Bi、Cd、Ga、Ge、In、Pb和Sb)体系活度预测值的平均标准偏差和平均相对偏差》
Sn-X(X=Bi、Cd、Ga、Ge、In、Pb和Sb)二元体系活度的预测值与实验值如图1所示。5Pa条件下Wilson方程以及无限稀偏摩尔过量焓数据预测的T-x相图与实验值如图2所示。平均标准偏差和平均相对偏差见表3。
图表编号 | XD00177035900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.25 |
作者 | 张行、杨红卫 |
绘制单位 | 昆明理工大学真空冶金与国家工程实验室、昆明理工大学冶金与能源工程学院、昆明理工大学真空冶金与国家工程实验室、昆明理工大学冶金与能源工程学院、昆明理工大学复杂有色金属资源清洁利用国家重点实验室 |
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