《表1 不同WC含量的CoCrCuFeNi高熵合金涂层的EDS分析结果》

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《WC对电子束熔覆CoCrCuFeNi高熵合金涂层组织的影响》

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对所有涂层中的晶内和晶间进行EDS成分分析，结果见表1。可以看出，晶间（ID）和晶内（DR)Fe、Co、Ni、Cu元素含量均偏离理论值（20%），其中Fe含量达到50%以上，这是由于基体稀释造成的。而低熔点的Co(1 495K）、Ni(1 453K）和Cu(1 358K）含量低于理论值，可能是因为在高能电子束熔覆下存在烧损[21]。枝晶间富集W和Cr，枝晶内富含Fe、Cu、Ni，而且WC含量越高枝晶间偏析越严重。