《表1 本架构与现有架构的对比》
(注:(1)电子元件类设备故障的主要触发因素之一为热老化导致的故障;(2)根据某数据中心实际经验,整流模块、逆变模块的故障率高于高速切换单元的故障率)
本架构与现有架构的对比情况,如表1所示。
图表编号 | XD00173387200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.04.10 |
作者 | 卢敏、李海平 |
绘制单位 | 万国数据(成都)实业有限公司、万国数据(成都)实业有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
(注:(1)电子元件类设备故障的主要触发因素之一为热老化导致的故障;(2)根据某数据中心实际经验,整流模块、逆变模块的故障率高于高速切换单元的故障率)
本架构与现有架构的对比情况,如表1所示。
图表编号 | XD00173387200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.10 |
作者 | 卢敏、李海平 |
绘制单位 | 万国数据(成都)实业有限公司、万国数据(成都)实业有限公司 |
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