《表1 验证测试结果分析》

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《半导体集成电路电源拉偏测试研究》

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10只器件的测试验证结果如表1所示。验证参数包括输入漏电流（IIL和IIH）、传输延迟时间（tPHL和tPLH）和输出转换时间（tTHL和tTLH），功能测试按照传输延迟时间和输出转换时间的结果来表征（时间越短，表明器件可工作在越高的工作频率下，性能越佳）。“符合比例”该列为统计结果，统计某参数随电源电压变化的比例关系，该产品为8缓冲器电路，共8个数据输入和8个数据输出端（除去使能和控制端），每个参数测试8个数据端口的参数，共10只电路，统计符合比例的端口占所有端口的比例情况。