《表1 背景校正后的测定结果》

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《干扰系数校正-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍基高温合金中磷》


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试验选用仪器推荐的4条分析谱线177.495,178.284,185.942,213.618nm进行干扰试验。按仪器工作条件,依次对溶样酸即1%(体积分数,下同)硝酸溶液、5%(体积分数,下同)盐酸溶液和干扰元素溶液进行测定,然后查看已测得的各共存元素谱图,并选择合适的背景点扣除背景,软件默认双侧扣背景,当分析谱线处存在严重的结构干扰时,只可执行单侧扣背景。经背景校正后的测定结果见表1,其中“-”是因W在该谱线处发射强度极低且背景效应高,无法执行有效背景扣除;测定值为负值是由负干扰引起。