《表1 纯锡中杂质元素测定结果（n=5)》

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《辉光放电质谱法测定纯锡中24种杂质元素和锡记忆效应的消除》

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基于辉光放电条件及不同分辨率模式下同位素选择方法，按照试验方法对纯锡中24种杂质元素含量进行测定，并对测定结果进行归一化校正，平行测定5次，以测定结果的相对标准偏差（RSD）考察方法的精密度，以与ICP-AES或ICP-MS结果的比对进行准确度验证，测定结果见表1。ICP-AES和ICP-MS均为实验室自建方法，已通过中国合格评定国家认可委员会（CNAS）和美国国家航空航天和国防合同方授信项目（NADCAP）的认可。