《表2 T2纯铜线材经不同工艺热处理的力学性能和导电率》

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《退火工艺对T2纯铜线材组织和性能的影响》

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经过不同方式退火后纯铜线材的导电率得到不同程度的提升。400℃×60 min退火后线材的导电率有轻微的提升，约为0.3%。850℃退火后线材的导电率提高了约5.2%，当退火时间为40 s时，导电率达到一个较高值为100.6%IACS。根据马西森定则（Matthiessen rule），金属的总电阻率可以表示为ρ=ρT+ρR，ρT为与温度相关的电阻率，ρR为与杂质、空位、位错和晶界等缺陷有关的电阻率。退火后晶体的完整性得到了恢复，晶体内的空位和位错都得到大幅下降，对电阻率的提升可以被忽略，主要阻止电子的流动迁移的应属退火后的晶界[10]。所以退火后晶粒组织越粗大，线材导电率越高。当线材分别经400℃和850℃退火后，线材晶粒的完整性得到恢复，其导电率均高于拉拔态线材的导电率。随着850℃退火时间的增加，再结晶晶粒不断长大，线材的导电率不断略微提升。