《表1 Sm,NaSm和THAP-NaSm的XRD分析结果》

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粉末X射线衍射(XRD)是评估基质添加物内部晶体结构的重要表征手段,本研究测定了Sm,NaSm和THAP-NaSm的XRD图谱,分别计算了不同添加物的晶面间距,结果如表1所示。显然由于THAP的嵌入,NaSm的晶面间距变大了。