《表4 正交试验极差与方差分析》
为准确检验各影响因子熔覆层尺寸的影响程度,借助Minitab软件对测量值进行极差和方差分析,分析结果如表4所示,R是平均极差,F是F检验值。在F分布表查得临界值Fα,通过F检验进行显著性水平(α)判断。在Minitab中,主要通过P值(介于0到1之间)与α值比较来判断影响因子的显著性。根据方差分析显著性定义,取P<α(0.05)表示该因子显著,取P<α(0.01)表示该因子高度显著。观察表4中极差值可知,电子束增材制造各工艺因素对单层单道熔覆金属熔深和熔宽的影响具有一致性,束流的影响最显著,其次是运动速度,送丝速度和扫描模式的影响差别较小且不显著。而工艺因素对单层单道熔覆层余高的影响不同,主要影响因素是运动速度,其次是送丝速度,束流和扫描模式的影响最小,束流和扫描模式对余高影响的极差值为0.539、0.320,说明束流和扫描模式的改变对余高几乎没有影响。由表4可以看出,F值均大于1,根据定义,束流对熔宽、熔深的影响显著,运动速度和送丝速度对余高的影响显著。
图表编号 | XD00161353400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.25 |
作者 | 王宁宁、韩冬、吴军、高世凯 |
绘制单位 | 西安航天动力机械有限公司、西安航天动力机械有限公司、西安航天动力机械有限公司、西安航天动力机械有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |