《表2 不同光学衰变下辐射计反演的卤钨灯辐亮度》
在光路中插入不同光学中性密度滤光片,模拟辐射计的光学衰变.插入5种中性密度滤光片的光学密度大致分别为OD 0.1,OD 0.2,OD 0.3,OD 0.4,OD 0.5,得到不同的通道探测效率,测量稳定性优于0.2%.自校准测量后,将扫描镜切换至辐射测量模式,测量不同衰变下通道的输出光子计数值,辐射测量模式下通道的光子计数值非稳定性优于0.15%,根据辐射计的工作原理,反演得到卤钨灯辐亮度结果如表2所示.表明辐射计在0%~70%的光学衰变下,反演卤钨灯光源的辐亮度精度优于0.38%.
图表编号 | XD00157604500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.01 |
作者 | 胡友勃、高冬阳、李健军、郑小兵 |
绘制单位 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室、中国科学技术大学、上海航天控制技术研究所、中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室、中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室 |
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