《表3 不同电子学衰变下辐射计反演的卤钨灯辐亮度》
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辐射计还可能发生电子学衰变，通过更换不同量子效率的单光子探测器模拟辐射计的电子学衰变．为保证单光子探测器的位置重复性，选取光纤耦合端光路作为电子学衰变通道．实验测量过程和前面类似，反演的目标辐亮度实验数据如表3所示．
| 图表编号 | XD00157604700 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.06.01 |
| 作者 | 胡友勃、高冬阳、李健军、郑小兵 |
| 绘制单位 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室、中国科学技术大学、上海航天控制技术研究所、中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室、中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
