《表1 磷谱峰位置归属：磷掺杂碳材料的制备、表征及应用进展》

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《磷掺杂碳材料的制备、表征及应用进展》

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XPS分析可以经过非结构性破坏高灵敏度地获得物质表面元素的化学态，是一种十分有用的表面分析技术。由于峰位置（结合能高低）与元素及其能级轨道和化学状态紧密相关，而峰强度与在测试表面的浓度和灵敏度成正比，所以通过XPS精扫谱图分析，可以获得碳材料表面的物种以及含量信息。但由于C、O、P组成的官能团形式多变，XPS难以对此类基团的精细结构进行精确区分，目前大多数文献根据P2p结合能的高低将P物种简单地分为P-C和P-O，且不同合成方法和原料来源制备的P@C材料，其P2p谱的峰位置也不尽相同，如表1所示。