《表7 CDM I-V测试次数统计》

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《DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究》


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通过表5、表6及表7统计数据,得出HBM及MM都分别测试了14次,LU测试了7次,CDM测试了2次。由于CDM测试中,I-V测量跟应力触发测试(trigger)需分开用两台测试仪器,通常只测试2次I-V曲线,比HBM/MM/LU的I-V测量次数少,I-V曲线测试次数少正好就是CDM刚好可以测试通过的原因。而HBM/MM/LU的I-V测量次数最少的也达到了7次。