《表2 X射线衍射图谱对应参数制得铸层中的磷含量》
图4是四种试验参数下所得铸层的X射线衍射图谱。可见,在2θ=45°处的衍射峰似“馒头包状”,衍射峰向两侧漫散开来,是非晶态结构的显著特征。对比图4a~图4d可见,随着平均电流密度的增大,峰值强度增大,谱线的漫散宽化程度降低;随着占空比的增大,峰值强度略有增大,谱线的漫散宽化程度略有提高;随着脉冲频率的增大,峰值强度减小,谱线的漫散宽化程度提高。将X射线衍射测定结果与脉冲参数对铸层磷含量的影响相对照(表2),可看出二者有平行关系,当铸层中磷含量较低时,谱线的漫散宽化程度也低,即非晶化程度低。由此看来,铸层中磷含量对非晶态的形成有重要作用。Ni-P合金中磷含量的增加一方面增加了合金的储存能,使合金的热力学不稳定性增加;另一方面阻碍了晶界的运动,使得晶粒尺寸逐渐降低,从而细化了晶粒,促使合金逐步形成非晶态。非晶Ni-P合金镀层中,随着磷含量的增加,会形成“混晶→完全非晶”的结构转变过程,且磷含量越高,非晶化程度越高[13]。
图表编号 | XD0015098500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.10.20 |
作者 | 李雪城、朱增伟、沈春健 |
绘制单位 | 南京航空航天大学机电学院、南京航空航天大学机电学院、南京航空航天大学机电学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |