《表2 部分元件的温度应力系数》
雷达的发射分机是薄弱环节,自身功耗较大,因此高温对其影响较大,整个可靠性试验剖面高温时间约为持续时间的一半。发射分机的主要元件包括电阻、电容、电感、集成电路等,电子元件的失效率与元件的工作温度有关。美国军用手册《HandBook of217Plus Reliability Prediction models》给出了不同元件的温度激活能。如集成电路的温度激活能为0.8 eV,陶瓷电容、二极管为0.3 eV,电阻的激活能为0.2 eV,电感激活能为0.47 eV。法国FIDES《Reliability Methodology for Electronic Systems》给出了不同元件的温度应力的激活能,如集成电路、二极管、电感、微波器件等激活能为0.7 eV,铝电容的激活能为0.4 eV、电阻的激活能为0.15 eV,电压转换器的激活能为0.44 eV,光耦、DIP插座、开关、继电器等的激活能为0.25 eV。我国GJB/Z 299C—2006《电子设备可靠性预计手册》给出了不同元件的温度应力系数,具体见表2。
图表编号 | XD00150144800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.25 |
作者 | 孔耀、袁宏杰、王政、朱绪垚 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第五十四研究所、北京航空航天大学可靠性与系统工程学院、中国电子科技集团公司第五十四研究所、中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |