《表1 不同硅含量下渗料配比情况》
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《钼基体表面硅化物涂层的包埋渗法制备工艺和机理研究》
将钼基样品置于不同硅含量下的渗料中进行沉积试验，渗料比例如表1所示。埋渗后不同编号样品单位面积增重与涂层厚度的关系以及涂层表面XRD物相分析如图1所示。
| 图表编号 | XD00146760600 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.02.15 |
| 作者 | 何浩然、刘奇、薄新维、王小宇、王焱辉、姚志远、韩校宇、刘成超 |
| 绘制单位 | 重庆材料研究院有限公司、重庆理工大学化学化工学院、重庆材料研究院有限公司、国家仪表功能材料工程技术研究中心、重庆材料研究院有限公司、国家仪表功能材料工程技术研究中心、重庆材料研究院有限公司、重庆材料研究院有限公司、重庆材料研究院有限公司、重庆材料研究院有限公司、重庆材料研究院有限公司 |
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