《表3 曲线回归精度及方法检出限》

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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定氮化硅锰中主次组分》

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按1.3配制校准样品，制备校准熔片，按设定的仪器条件测定各元素的X射线荧光强度。以系列校准样品各元素的含量为横坐标，以X射线荧光强度为纵坐标，建立校准曲线。校准曲线的回归精度（SEE）及方法的检出限（LOD）见表3。式（1）、（2）分别为校准曲线回归精度和检出限的计算公式。