《表2 校准样品系列中各元素含量》

《表2 校准样品系列中各元素含量》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定氮化硅锰中主次组分》


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由于氮化硅锰没有国家标准样品,实验选用标准物质氮化锰铁(GSB03-1797-2005)、氮化硅铁(GSB03-2469-2008),选取二氧化硅、三氧化二铁与硅锰标准样品(YSBC28611-2010)配制形成具有一定梯度,含量范围合适的校准曲线。熔融时碳、硫、氮等元素烧损,由于样品中碳、硫含量较低,根据氮化硅锰中氮的典型成分,将校准曲线系列样品的灼烧减量(LOI)设定为30%。校准曲线系列样品各元素含量见表2。以表2中合成1#校准样品(硅质量分数为45.01%)为例来说明合成校准样品的制备过程:称取0.070 0g锰硅合金(YSBC28611)标准物质于玻璃表面皿上,与1.200 0g碳酸锂混匀,再准确加入0.363 7g二氧化硅,0.057 1g三氧化二铁纯物质,按1.2方法进行预氧化后,熔融制备成玻璃熔片。其余合成校准样品按表中称样量称取标准样品和纯物质,其他操作相同。