《表2 故障统计情况:高加速寿命试验在光纤声光调制器上的应用研究》
光纤声光调制器高加速寿命试验结束后,对试验结果进行分析。6#、7#被试品进行低温步进试验至-100℃时,测试插入损耗和消光比超差,恢复常温后测试正常,由于该项目试验温度已达到试验设备的低温极限,终止试验。8#、9#被试品进行高温步进试验至135℃时,测试插入损耗和消光比超差,恢复常温后测试结果依然超差。12#、13#被试品进行快速温度变化试验至第34循环高温阶段,13#被试品测试插入损耗和消光比超差,恢复常温后测试结果依然超差。11#被试品进行振动步进试验进行至45g时,测试插入损耗和消光比超差,回到5g时插入损耗和消光比超差,无振动条件下插入损耗和消光比超差。14#、15#被试品进行综合环境试验至第三循环低温阶段时,测试插入损耗和消光比超差,继续试验至高温阶段时依然超差。本试验激发出5类故障,故障统计情况见表2。
图表编号 | XD00133650200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.25 |
作者 | 李哲、蒙莉、许广宁、袁光华 |
绘制单位 | 重庆赛宝工业技术研究院、重庆赛宝工业技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |