《表2 部分共定位分析的影响因素》

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《共聚焦和超分辨率显微荧光图像的共定位分析浅谈》

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无论是共定位的定性分析和定量分析，影响因素可以分为硬件方面和制样方面（表2）。在这些因素中，对图像进行反卷积处理很重要。通过反卷积对整个光学系统因衍射等所产生的“系统误差”进行纠正，找到图像当中真正的物象[14]，这对于共定位分析极为重要（图8）。