《表2 平板探测器技术参数表》

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《应用于铸造舱体检测的X射线实时成像选型设计研究》

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采用非晶硅平板探测器应用于航空航天铝、镁合金舱体铸件，其成像面积大、检测效率高、分辨率高，有利于提高铸造缺陷的检出率。平板探测器的各项指标都影响着成像质量和缺陷的检出率，根据铝镁合金铸件的结构特点及内部缺陷形态及尺寸（最小缺陷为1、2级针孔，直径约0.1mm），根据需求选取型号为XRD 3025的平板探测器，主要技术参数见表2。