《表2 监控一次和多次底波时缺陷处波幅高度对比》

《表2 监控一次和多次底波时缺陷处波幅高度对比》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《粉末高温合金盘件超声波底损监控问题探讨》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

由图5还可以看出,由于声束是发散的,一次波在底面上的投影小于二次波,即一次波声束直径小于二次波声束直径。由文献[4]可推测,当缺陷尺寸小于声束直径时,对于同一缺陷和相同的检测工艺,C扫描图中缺陷区域大小与缺陷在底面上的投影面积有关,呈线性比例关系。监控二次或多次底波与监控一次底波相比,平底孔在底面投影面积逐渐增加,因此监控一次底波C扫描图中底损异常区域大于二次底波C扫描图中底损异常区域面积。