《表5 仪器精密度和方法精密度（n=6)》

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《粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分》

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精密度是衡量结果稳定性的重要指标，因此对标准样品（GBW03120）平行制备6个压片进行测定，再将其中的一个压片重复测定6次分别进行仪器精密度与方法精密度测定。通过表5可知，在方法的精密度中各组分的相对标准偏差（RSD）在1.40%～4.86%之间，在仪器的精密度中各组分的RSD在0.8%～4.25%之间，相对标准偏差控制在5%以内，说明该实验精密度良好。