《表6 石墨中杂质组分分析结果比较》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

aX射线荧光光谱法；b电感耦合等离子发射光谱法。

在最优的制样条件下，按照既定分析步骤，把重新压片三个石墨国家标准物质ZBM150、ZBM151、ZBM152分别进行测定。根据表6可知，石墨中杂质组分的测定值与标准值基本一致。该方法对比电感耦合等离子发射光谱（ICP-OES）分析测试结果相当一致。这表明本方法具有很好的准确度。