《表2 配电盘各加速度测点测得的自振频率》

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《基于反应谱法的1E级配电盘抗震性能试验》

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其他试验测点测得的3个正交轴向自振频率与MA1处X方向的传递函数同理，测得的配电盘各加速度测点的自振频率详见表2。通过对1E级低压配电盘进行白噪声法动态探查试验，测得配电盘在X轴向的自振频率为12.0 Hz，Y轴向的自振频率为19.5 Hz，Z轴向的自振频率为25.9 Hz。