《表1 高3位地址线功能选择方式》

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《基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试》

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将FLASH芯片的地址线A0～A18与被测SoC器件的地址线A0～A18相连，用于接收被测SoC器件的地址输出信号，被测SoC器件的输出使能、读使能、复位信号以及EMI片选信号等控制管脚分别与FLASH相对应的控制信号管脚进行连接，FLASH的高3位地址线与ATE的数字通道相连实现不同功能模块的选择，连接原理如图4所示，高3位地址线的模块选择如表1所示。