《表3 低温等离子体处理前后MWNTs的XPS测试结果》
XPS(X-ray photoelectron spectroscopy)是一种新型非破坏性的元素表面分析手段和测试方法,可以测定MWNTs改性前后表面的元素组成、基团种类和含量等信息。图1是MWNTs和改性MWNTs的O1s分峰图,其中,峰1、峰2、峰3分别出现在530.7 e V、532.1 e V及533.3 e V,相对应于C=O、C-OH或C-O-C、O-C=O[16]。低温等离子体处理前后MWNTs表面的元素含量和含氧官能团的比例如表3所示。
图表编号 | XD00115601000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.01.25 |
作者 | 宋国林、张泽、沈成柱、范鑫、谢俊伟、唐国翌 |
绘制单位 | 清华大学深圳国际研究生院、深圳大学材料学院、清华大学深圳国际研究生院、深圳大学材料学院、清华大学深圳国际研究生院、清华大学深圳国际研究生院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |