《表5 暴露于电离辐射中的MEFs中编码SNVs的频率》

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《诱导性多能干细胞的低基因组稳定性使非同源末端连接增加》

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接下来，我们测试了lv-iPSCs的较低基因组稳定性是否反映了无错误HR修复途径的缺陷。我们发现ATM磷酸化在lv-iPSCs中是有缺陷的（图4b)[30，41]。我们还发现，负责招募修复蛋白到双链断裂处的H3K9me3在辐照后的lv-iPSCs中的水平比辐照后的ESCs和MEFs更低（图4c）。总之，这些发现可能有助于解释lv-iPSCs突变率更高的原因。