《表1 Sn1-x Crx S2(x=0、0.01、0.03、0.05和0.07)样品的晶格参数》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《Cr掺杂SnS_2纳米花的微观结构与光学性能》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

不同掺杂浓度的Sn1-xCrxS2（x=0、0.01、0.03、0.05和0.07）样品的XRD谱如图1所示。当样品中掺杂Cr元素时，所有样品衍射峰的位置和相对强度与Sn S2标准卡片JCPDS（23-0677）基本一致，表明本方法所制备样品属于六方纤锌矿晶体结构。随着样品中Cr掺杂量的增加，各个衍射峰相对于纯样品的衍射峰略有宽化，但各样品的衍射峰还是较尖锐，峰宽较窄，说明结晶良好。XRD谱中并没有出现Cr的金属团簇以及其它铬的硫化物等第二相的衍射峰，即样品为纯相，说明金属离子Cr3+以替代Sn4+的形式掺杂进入到SnS2晶格中。当x<0.07时，峰值位置稍向低角度方向移动，晶格常数也随之增大，从表1可以看到，Cr掺杂的样品晶格常数、晶胞体积和晶面间距均大于纯样品，但Cr3+的离子半径小于Sn4+的离子半径，表明掺杂的Cr3+离子并没有完全对Sn4+离子进行取代，而是有一部分进入了晶格间隙，导致了晶格的膨胀。当掺杂浓度升高至x=0.07时，观察到样品的晶格常数、晶胞体积及晶面间距均发生降低。