《表1 测试所用罗杰斯样品型号及热系数典型值[7][8]》

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《温度均匀性对微波介质基板介电常数热系数测试的影响》

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利用两套不同的温控系统，分别对RT duroid6002和CLTE-XT两种样品的介电常数热系数进行测试，以比对不同温控状态下介电常数热系数的测试结果。从表1中可以看出，上述两种材料的介电常数热系数的典型值非常小，RT duroid 6002介电常数热系数为0.0012%/℃（12 ppm/℃），CLTE-XT介电常数热系数为-0.0009%/℃（-9 ppm/℃），均介于-0.002%/℃～0.202%/℃（-20 ppm/℃～20 ppm/℃）之间，如此小的介电常数热系数变化，对测试系统的介电常数测试稳定性、重复性、以及测试系统温度均匀性、准确性都提出了更高的要求（见表1）。